DIN EN 60749-29-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:封闭试验

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 00:51:47  浏览:9911   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part29:Latch-uptest(IEC60749-29:2003);GermanversionEN60749-29:2003+Corrigendum:2004
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:封闭试验
【标准号】:DINEN60749-29-2004
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2004-07
【实施或试行日期】:2004-07-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;试验装置;多语种的;过电压试验;封闭;尺寸;介质;组件;压电的;机械试验;电子工程;谐振器;介电性能;电学测量;频率稳定;压电器件;半导体器件;术语;集成电路;气候试验;耐力;试验;电子设备及元件;定义;环境试验
【英文主题词】:Climatictests;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Dielectricproperties;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Frequencystabilization;Integratedcircuits;Latch-up;Mechanicaltesting;Multilingual;Overvoltagetests;Piezoelectric;Piezoelectricdevices;Resistance;Resonators;Semiconductordevices;Terminology;Testing;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:22P.;A4
【正文语种】:德语