GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-22 03:07:07 浏览:8167
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 硅片径向电阻率变化的测量方法 |
| 英文名称： | Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属理化性能试验方法 >>
金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： |
|
| 替代情况： | 被GB/T 11073-2007替代 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1989-03-31 |
| 实施日期： | 1990-02-01 |
| 首发日期： | 1989-03-31 |
| 作废日期： | 2008-02-01 |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： | 中国有色金属工业协会 |
| 起草单位： | 峨嵋半导体材料研究所 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 14页 |
适用范围
本标准规定了用直排四探针方法测量硅单晶片径向电阻率变化的方法。本标准适用于硅片厚度小于探针平均间距。
前言
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引用标准
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所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法
【英文标准名称】:Liquidcrystalandsolidstatedisplaydevices.Sectionalspecificationforliquidcrystaldisplay(LCD)cells
【原文标准名称】:液晶和固态显示装置.液晶显示(LCD)小室的分规范
【标准号】:BSIEC61747-3-1998
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1998-06-15
【实施或试行日期】:1998-06-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:尺寸;电气元件;资格鉴定;环境试验;电子设备及元件;光电子器件;显示装置;质量保证体系;试验条件;液晶器件;试样;机械试验;验收检验;耐久试验;电气设备;认可试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L34
【国际标准分类号】:31_120
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语
Product Code:SAE AMS4122
Title:Aluminum Alloy Bars, Rods, and Wire Rolled or Cold Finished, and Rings, 5.6Zn - 2.5Mg - 1.6Cu - 0.23Cr (7075-T6), Solution and Precipitation Heat Treated
Issuing Committee:Ams D Nonferrous Alloys Committee
Scope:This specification covers an aluminum alloy in the form of rolled or cold finished bars, rods, and wire, and of flash welded rings.
